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レポートナンバー 0000024163

特許情報分析(パテントマップ)から見た 非破壊検査〔2019年版〕 技術開発実態分析調査報告書

株式会社パテントテック社

発刊日 2019/08/19

言語日本語

体裁A4/222ページ

ライセンス/価格222ページ

0000024163

A4版 45,900 円(税込)

※販売価格欄に記載されている金額は「書籍版」または「PDF」単独での価格です。
※CD-ROM版 販売価格:75,900円(税込)
※CD-ROM版収録内容:書籍(PDF)とパテントマップViewer(閲覧ソフト)およびパテントマップ・チャート(パテントマップEXZデータ)

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レポート概要

■本誌の特徴等

1. 調査目的
 「非破壊検査〔2019年版〕」に関する公開件数、出願人(共同出願人)、発明者、特許分類、キーワードなどに対し、ランキング、時系列推移、技術分布図など様々な観点から分析したパテントマップおよび、パテントチャートを作成し、
 (1) どの非破壊検査関連企業にどのような技術の公開があるか、
 (2) 各企業の技術開発動向はどのように推移しているか、
 (3) 最近11年における関連技術の出現・消失状況はどのようになっているか、
 (4) 各企業間の連携状況はどのようになっているか、
 (5) 2016年以降における企業および技術の注目すべき動向は何か、
 (6) この分野に強い弁理士(特許事務所) と企業の利用状況はどうか、
等を明確にして、今後の開発の指針決定に役立てようとするものである。

2.特許情報の収集方法
 本調査報告書は、「非破壊検査」の過去11年(国内公開日:2008年~2018年)に及ぶ公開特許について、検索、収集した。また、報告書作成には、パテントマップ作成支援ソフト「パテントマップEXZ」(インパテック(株)製)を使用した。
特許情報公報の総数は 3,910 件 である。

3. 報告書の構成
 本報告書は、以下の3つの部分から構成されている。
1. パテントマップ編
 A. 2016年以降に新規出現した出願人、技術分類による動向分析
 B. 2012年~2018年(既刊「非破壊検査〔2013年版〕」以降)の動向分析
 C. 全般分析
 D. 上位20出願人比較分析
 E. 上位5出願人個別分析
 F. 特定2出願人比較分析(1位東芝G、2位三菱重工業)
 G. 上位20特許分類分析
 H. キーワード分析
  H-1. 特定特許分類分析(1)
   ・FIサブグループ分類(深さ13)
   ・Fターム分類(深さ10)
  H-2. 特定特許分類分析(2)
   ・FIメイングループ分類(深さ8)
   ・Fターム分類(深さ8)
 I. キーワード分析
  ※キーワード(発明の名称、要約、請求の範囲から抽出)においては、
   下記2グループの観点から分析を行った。
   (1) 検査法系(目視検査、放射線透過試験、超音波探傷試験、渦電流探傷試験等8個)
   (2) 装置系(超音波探傷装置、渦電流探傷装置、漏洩磁束探傷装置等5個)
 J. 弁理士(特許事務所)の動向分析

2. パテントチャート編

3. 総括コメント

4. 本報告書の特徴
●  「非破壊検査」に関する最近11年、さらには2016年以降の
   技術動向が分かりやすく把握できる。
●  本技術分野に関連する弁理士(特許事務所)の動静が読み取れる。
●  パテントマップおよびパテントチャートで視覚的に理解しやすい。

レポート詳細

目次

はじめに

調査分析結果

I.パテントマップ編

A.2016年以降に新規出現した出願人、技術分類による動向分析
  2016年以降における
   ・出願人別出願件数ランキング(上位50)
   ・技術分類(上位50FIサブグループ、上位50Fターム)別出願件数ランキング
   ・出願人別出願件数伸長率マップ(上位50)
  など4マップを掲載。
  【資料1、2】2016年以降に新規出現したFIサブグループとFタームの分類リスト(上位100)

B.2012年~2018年(既刊「非破壊検査〔2013年版〕」以降)の動向分析
  2012年~2018年における
   ・出願件数*出願人数の推移対比(年次)
   ・出願人上位2のFIサブグループ分類別出願件数ランキング
   ・出願人、分類別の占有率分析
   ・1位技術分類と他分類との相関マップ
  など8マップを掲載。

C.全般分析
  「テーマ」の全体動向について
   ・全体の技術開発ライフサイクル
   ・件数推移、出願人数推移、新規発明者数推移、新規技術分類数推移のマップ
   ・出願人、発明者、技術分類ごとの出願件数ランキングマップ
   ・期間、出願人を着眼点とした技術分類別出願件数マップ
   ・出願人、技術分類の出現・消失状況マップ
   ・出願人、発明者、技術分類の伸長率マップ
   などの23マップを掲載。

D.上位20出願人比較分析
  上位20出願人を比較分析するための
   ・出願件数、共同出願人数、新規発明者数推移を比較するマップ
   ・上位20出願人と上位20技術分類、キーワードの相関マップ
   ・審査権利状況
   ・出願件数の伸びと技術分類の構成率の比較
   ・技術分類数と発明者数による出願人分布
  など11マップを掲載。

E.上位5出願人個別分析
  上位5出願人をそれぞれ個別に分析を行うための
   ・各出願人の技術分類上位20による出願件数推移マップ
   ・各出願人の技術分類上位40とキーワード上位40による出現・消失状況マップ
   ・各出願人の独自技術分類、独自キーワードを分析するマップ
   ・各出願人の共同出願人
  など37マップを掲載。

F.特定2出願人比較分析(1位東芝G、2位三菱重工業)
  特定2出願人を比較分析するための
   ・各出願人の技術分類の出願件数、出願件数推移の比較マップ
   ・各出願人の出願件数の出現・消失状況、伸び変遷マップ
   ・各出願人と技術分類との相関マップ、出願人の技術分類別ランキングマップ
  など10マップを掲載。

G.上位20特許分類分析
  上位20FIサブグループ、上位20Fタームを分析するための
   ・前期間と後期間による技術分類の出願件数比較マップ
   ・技術分類別の出願人数、発明者数比較マップ
   ・出願件数、出願人数、発明者数の各推移マップ
  など10マップを掲載。

H.特定特許分類分析
  H-1では、FIサブグループ分類、Fターム分類を各々一つ指定し、その技術分類における
   ・出願人別出願件数推移、新規出願人数推移、新規発明者数推移を分析するマップ
   ・分類の出願件数伸長率変遷マップ、出願人別出願件数ランキングマップ
  など12マップを掲載。
  H-2では、さらに、FI分類、Fターム分類を複数指定し、それらの技術分類における
   ・出願人別、分類別出願件数の各ランキングマップ及び出願件数推移マップ
   ・Fターム分類とFターム分類、Fターム分類と出願人の各出願件数相関マップ
  など15マップを掲載。

I.キーワード分析
   ・キーワードの出現・消失状況を分析するマップ
   ・キーワードの伸長率を分析するマップ
   ・キーワード系別の出願人別出願件数推移マップ
   ・キーワード系別の出願人数、新規発明者数の推移マップ
   ・キーワード系別の出願件数の伸びと構成率比較
  の10マップを掲載。

J.弁理士(特許事務所)の動向分析
   ・弁理士別の出願件数、出願件数推移マップ
   ・上位40弁理士と上位20FIメイングループの相関マップ
  など3マップを掲載。

II.パテントチャート編

パテントチャートでは、特定の出願人を指定し
 ・公報図等を含む時系列チャート、Fターム分類と発明者のマトリクスチャート分析
 ・特定Fターム分類の技術分類マトリクスチャート
 ・注目特許のサイテーションマップ
など6マップを掲載。

III. 総括コメント
参考資料
【資料3】出願人統合リスト
【資料4】上位5出願人の発明者リスト
【資料5】パテントマップ・パテントチャートの種別と見方

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